Core-facilities:  MetCore  |   AnimalCore   |   GenCore   |   ExaCore

  • Equipos y servicios Centro de microscopía | MicroCore | Uniandes

    Equipos y servicios Centro de microscopía | MicroCore | Uniandes

  • Equipos del Centro de microscopía | MicroCore | Uniandes

    Equipos del Centro de microscopía | MicroCore | Uniandes

  • Equipos y servicios del Centro de microscopía | MicroCore | Uniandes

    Equipos y servicios del Centro de microscopía | MicroCore | Uniandes

MicroCore cuenta con la infraestructura para prestar servicios con técnicas especializadas en microscopía de campo claro, fluorescencia y microscopía confocal de barrido láser, microscopía de barrido de electrones, microscopía de barrido y transmisión de electrones, microscopía de haz de iones focalizados y microscopía de fuerza atómica. Adicionalmente presta el servicio de preparación de muestras según la técnica a utilizar y asesoría en el diseño de experimentos.


EQUIPOS Y SERVICIOS

Microscopio de barrido de electrones - Jeol
Microscopio de Barrido de Electrones - JEOL

Microscopio de barrido de electrones JEOL, modelo JSM 6490-LV. Permite observar muestras de tamaños desde centímetros hasta muestras del orden de nanómetros, en los modos de alto y bajo vacío y permite realizar análisis químico mediante espectroscopía por dispersión de energía (EDS) Tiene integrados cuatro detectores:

  • Detector de electrones secundarios tipo E-T (Everhart-Thornley)
  • Detector de electrones retrodispersados de estado sólido multielementos.
  • Detector de espectroscopia por dispersión de energía (EDS)
  • Detector de electrones secundarios para observaciones en el modo de bajo vacío.

SERVICIOS DE MICROSCOPÍA DE BARRIDO DE ELECTRONES


Microscopio de haz de iones focalizado - Tescan
MICROSCOPIO DE HAZ DE IONES FOCALIZADO - TESCAN

Microscopio de barrido de electrones y de haz de iones focalizado FE-MEB LYRA3 de TESCAN. El MEB tiene integrado un sistema de microanálisis por espectroscopía de dispersión de energía de rayos X, EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), el cual nos permite obtener un espectro con los diferentes elementos químicos que pueda contener el área analizada y un porcentaje relativo de cada uno de ellos. Además, con ésta técnica se obtiene un mapa de distribución de los elementos detectados en el área analizada. Los análisis cuantitativos tienen una precisión de ± 2%, con límites de detección de 100 ppm aproximadamente en análisis rutinarios.

SERVICIOS DE MICRSOCOPÍA DE HAZ DE IONES FOCALIZADO


Microscopio de barrido por sonda
Microscopio de Barrido por Sonda

Microscopio de barrido por sonda de la marca Asylum Research, modelo MFP-3D-BIO. Permite obtener imágenes de topografía de materiales biológicos y no biológicos además de obtener información de propiedades físicas y mecánicas del material analizado.

Caracterización de materiales:

  1. Electrostatic Force Microscopy (EFM).
  2. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM).
  3. Piezo Force Microscopy (PFM).
  4. Conductive AFM (ORCA).
  5. Force-Volume Spectroscopy
  6. Nanoindentacion

Módulos especializados:

  1. Módulo de calentamiento de polímeros
  2. Fuente de alto voltaje hasta 220V para medidas de piezoelectricidad.

Referencia de puntas:

  1. AC240TS - Puntas estándar se silicio sin recubrimiento para medidas topográficas, nano-indentación para muestras blandas (alginatos, polímeros, fibras, etc).
  2. AC240TM - Puntas con recubrimiento de titanio/platino para medición de propiedades eléctricas y topografía. Para realizar medidas de "Electric Force Microscopy", "Kelvin Probe Microscopy", "Conductive AFM" y "Piezo Force Microscopy".
  3. ASYMTM - Puntas con recubrimiento de cobre/cobalto para medición de propiedades magnéticas y topografía.
  4. TR800PSA - Puntas suaves de silicio con recubrimiento de oro para medición dentro de fluidos.
  5. TR400PB - Puntas ultrasuaves de silicio con recubrimiento de oro para medición dentro de fluidos.

SERVICIOS MICROSCOPÍA DE BARRIDO POR SONDA

Microscopio de fuerza atómica

Permite obtener información acerca de la topografía, rugosidad y el tamaño de nanopartícula o de la muestra.

Microscopio de fuerza eléctrica

Obtiene los dominios eléctricos en la superficie de las muestras y los contrasta con la topografía.

Microscopio de sondas de kelvin

Permite obtener el potencial eléctrico en la superficie de las muestras.

Microscopio de piezo-electricidad

Obtiene las propiedades piezo eléctricas en dos puntos distintos en la superficie de la muestra. Adicionalmente, da información acerca de frecuencia simple, la orientación del vector y medidas de histéresis.

Microscopio de fuerza atómica de conducción

Permite observar la variación de corriente sobre la superficie de la muestra.

Medidas elásticas en la superficie

El equipo permite realizar una medición del módulo de Young, adhesión de la superficie de la muestra y lo correlaciona con la topografía de la misma.


Microscopio de fluorescencia
Microscopio de fluorescencia

Es un servicio de microscopía óptica basado en el principio de la fluorescencia en donde el espécimen, autofluorescente, o marcado con fluorocromos,  es iluminado con una longitud de onda específica que induce la emisión de  luz por parte de las regiones marcadas de la muestra, generando un mayor contraste y facilitando la detección de las regiones, células o moléculas  marcadas. En el Centro de Microscopía contamos con dos microscopios de fluorescencia, el microscopio óptico Olympus IX71 y el Microscopio Axioskop 40 de Zeiss.

El microscopio óptico Olympus IX71 cuenta con 5 objetivos diferentes: 20x/0.5, 20x/0.45, 10x/0.4, 40x/1.30 y 60x/1.4. Adicionalmente, este microscopio posee una serie de filtros de fluorescencia que permiten ver en un amplio rango de longitudes de onda

Los filtros de fluorescencia disponibles son los siguientes:

  • U-N31001 FITC
  • U-N31000v2 DAPI
  • U-N49003 ET YPF
  • U-N49005 ET R/DsRED

El Sistema de iluminación de fluorescencia para el microscopio Olympus IX71  trabaja con una  lámpara X CITE 120 de larga duración para lámpara de Metal Haluro. El sistema de detección del equipo cuenta con una cámara digital Olympus XM10 y con el sistema de captura de imágenes Cellsens.

El Microscopio Axioskop 40 de Zeiss cuenta con 4 objetivos diferentes: 40x/0.65, 5x/0.12, 10x y un objetivo de contraste de fases 40x/0.65. Adicionalmente, cuenta con los siguientes filtros de fluorescencia:

  • Filter ser 20 HE BP 546/12 FT 560 BP 607/80
  • Filter set 09 BP 45-490 FT 510 LP 515

SERVICIOS DE MICROSCOPÍA DE FLUORESCENCIA


Microscopio confocal de barrido láser
Microscopio Confocal de Barrido Láser

Es un servicio de microscopía óptica basado en los fundamentos de la fluorescencia, que puede realizar seccionamiento óptico de las muestras, generando mayor contraste y generando la posibilidad de hacer reconstrucciones en 3D y múltiples análisis avanzados, como FRET, FRAP entre otros.  El microscopio Olympus FV1000 de alta gama, 100% motorizado, permite aplicaciones avanzadas de seccionamiento óptico y “live cell imaging”. Posee un sistema de detección de tres canales y la posibilidad de realizar detección espectral, proporcionando gran versatilidad en la escogencia de los fluorocromos a utilizar. El equipo cuenta con seis líneas de láser, una unidad multiargón, con líneas 458/488/515, y tres unidades laser de estado sólido de 559 nm, 635 nm y 405 nm.

Objetivos:

  • 10x/0.4 UPlanSApo
  • 20x/0.75 UPlanSApo
  • 40x/0.6 UCPlan FL N
  • 60x/1.42 oil PlanApo N
  • 60x/1.2 w UPlanSApo

SERVICIOS DE MICROSCOPÍA CONFOCAL DE BARRIDO LÁSER

Observación por microscopía confocal

Dependiendo del tipo de muestra y el ensayo a realizar se pueden tener algunos inconvenientes en el momento de adquirir las imágenes del microscopio. Los microscopios de fluorescencia convencionales, producen una imagen que contiene información, no solo del plano enfocado, sino que captura la señal fluorescente de áreas o planos que se encuentran fuera de foco; esto genera ruido en las imágenes y en el fondo, representado en imágenes con bajo contraste y en ocasiones con falta de detalle. El microscopio confocal soluciona este inconveniente, bloqueando o rechazando la señal generada en planos que no están enfocados (fuera del plano focal). Esto se logra iluminando la muestra con rayo de luz láser que barre o escanea la muestra en un sistema punto a punto y línea por línea, además de la inclusión de una apertura (pinhole) que se encuentra conjugado con el plano de la imagen. De esta manera se logra controlar la profundidad de campo, se produce un fondo que permite un mayor contraste y se genera la capacidad de realizar cortes o secciones ópticas seriadas.

Observación por microscopía confocal

Seccionamiento óptico

Se puede realizar seccionamiento óptico de las muestras por medio de un análisis multifoco, lo cual genera mayor contraste. A partir de dicho seccionamiento, se puede realizar una reconstrucción en 3D de la muestra. También permite realizar colocalización, permitiendo identificar si dos moléculas están en el mismo lugar en un instante de tiempo específico, pero que no se encuentran interactuando entre sí.

Análisis y reconstrucción 3D

El microscopio confocal de barrido láser permite obtener secciones ópticas a lo largo del eje z de una muestra Al realizar esta adquisición seriada de secciones ópticas es posible llevar a cabo análisis 3D, que permiten estudiar estructuras ubicadas en distintos planos de focales. Adicionalmente, mediante el procesamiento digital de las imágenes, es posible realizar reconstrucciones 3D de las estructuras observadas.

Análisis 3D microscopía confocal
Live cell imaging

Usando este tipo de microscopía, es posible hacer seguimientos a procesos in vivo durante periodos de tiempo determinados. Es posible controlar la temperatura y la humedad durante los periodos de observación.


Preparación de muestras Centro de microscopía
PREPARACIÓN DE MUESTRAS
Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur adipiscing elit, sed do eiusmod tempor incididunt ut labore et dolore magna aliqua. Ut enim ad minim veniam, quis nostrud exercitation ullamco laboris nisi ut aliquip ex ea commodo consequat.

SERVICIOS DE PREPARACIÓN DE MUESTRAS

Secador por punto crítico

El Secador de punto crítico SAMDRI®-795 es un equipo que mediante una serie de etapas de procesamiento, logra estabilizar y preservar la delicada estructura tridimensional de las muestras.

Con el fin de preservar la estructura tridimensional se debe evitar el repentino cambio de densidades (secado al aire) que se produce cuando el líquido “embebido” en la muestra y que permea su ultraestructura, se convierte en gas. Los líquidos que se utilizan para reemplazar el agua de las muestras tienen un punto crítico bien definido – una temperatura y presión específicas a volumen constante para cada uno de ellos -.

En el punto crítico las densidades en fase líquida y gaseosa de un fluido de transición son iguales; sin embargo no existe un límite de fase. Después que la transición de un líquido a fase vapor tiene lugar, la fase vapor puede ser removida (mientras esté por encima de la presión atmosférica) y la muestra secada preserva su estructura sin daños debido a las fuerzas de tensión superficial.

Secador por punto crítico - preparación de muestras microscopia

Metalizador

Uno de los requisitos para observar muestras en el MEB (en alto vacío) es que sean conductoras de corriente eléctrica, para que no se carguen causando la desviación del haz de electrones. Entonces, sí la muestra no es conductora se le debe aplicar un recubrimiento con un material conductor, como el carbono o el oro. El metalizador Desk® IV proporciona un recubrimiento de grano fino (100Å) uniforme y conductor, en un solo ciclo de revestimiento.

Técnica de recubrimiento con oro
Consiste en el depósito de una película fina de oro u oro-paladio sobre la muestra, en condiciones de baja presión (10-4 Torr). Esta técnica se emplea para la obtención de imágenes de electrones secundarios, ya que el oro es uno de los materiales que origina mayor emisión, conduciendo a mejores resultados.

Técnica de evaporación con carbono
Al hacer pasar corriente entre dos electrodos de grafito conectados a una fuente de corriente alterna de alta intensidad y bajo voltaje, una punta de grafito se sublima, rociando la muestra con una capa delgada de carbono. Todo el sistema está confinado en vacío para favorecer el depósito.

Esta técnica es apropiada cuando se realiza microanálisis elemental (EDS), ya que el bajo número atómico del C lo hace casi transparente a los rayos X emitidos por la muestra. 

Especificaciones:

  • Su avanzado diseño de rejilla de ánodo patentada, impide que el bombardeo de electrones caliente la muestra.
  • Es posible ajustar el tiempo de pulverización de manera automática o manual.
  • Su control de corriente ajustable permite disminuir o aumentar las tasas de pulverización para lograr recubrimientos de grano más fino.
  • Incluye accesorios para Evaporación de Carbono en barras (CAR001-0044) para lograr recubrimientos con C.

Metalizador - preparación de muestras

Cortadora

El equipo Secotom-15 de Struers es una avanzada máquina de corte de precisión con gran capacidad y flexibilidad de aplicación que cumple con las normas internacionales de seguridad. Secotom-15 tiene la capacidad de cortar piezas de trabajo grandes y profundas, de hasta 70mm de diámetro o de 165 x 50mm. La cesta de drenaje permite recoger y limpiar fácilmente las partículas grandes del proceso de corte.

Secotom-15 cuenta con una platina para graduar el movimiento en Y de forma automática. El centro de microscopía cuenta con un soporte adicional accesorio para graduar la posición en X de forma manual. Este equipo me permite disminuir el tamaño de muestras orgánicas, metales, concretos de baja densidad y distintos polímeros.

Cortadora de precisión - preparación de muestras microscopía

Ultramicrótomo

El ultramicrótomo Leica EM UC7 es de gran utilidad para realizar cortes semifinos (1um) y ultrafinos (hasta 50 nm). Este facilita la obtención de superficies lisas de muestras tanto biológicas como industriales, para ser utilizadas en análisis por TEM, SEM, STEM. 

Ultramicrótomo - preparación de muestras microscopía


Microscopio de hoja de luz Centro de microscopía
MICROSCOPIO DE HOJA DE LUZ

La microscopía de hoja de luz hoy en día permite ver organismos vivos con la ventaja sobre el confocal de que estos se pueden mantener vivos en el microscopio por largos periodos de tiempo. Para muestras grandes puede tener mejor resolución y para muestras pequeñas es mucho más amigable con las mismas (menos fototóxico) y logra tomar las imágenes a mayor velocidad. Esto también tiene desventajas como la necesidad de planear mejor los experimentos a través de montajes más complejos y se pierde la capacidad espectral del confocal que permite evitar el uso de filtros.  Adicionalmente la alta distancia de trabajo permite trabajar con muestras clarificadas (también conocidas como transparentizadas o diafanizadas), de varios milímetros de tamaño con lo que permite realizar reconstrucciones sin necesidad de micrótomo. 

El microscopio de hoja de luz del grupo de biofísica que está a disposición del centro de microscopía ha tomado imágenes de corales, neuronas y axones en peces cebra por hasta 24 horas continuas, gusanos c. elegans y bacterias en biopelículas, entre otros. De esta manera genera imágenes en varios colores de muestras en 3D a través del tiempo o de alta velocidad, por lo que es importante traer un disco duro externo con suficiente espacio.

CARACTERÍSTICAS DEL MICROSCOPIO DE HOJA DE LUZ

Láseres de iluminación

El microscopio cuenta con láseres de 405nm, 488nm, 559nm y 630nm.

 

Objetivos de iluminación

Objetivos de 10x 0.25 y 10x 0.3

Ancho de la hoja de luz: 1 a 2 mm.

Sistema de iluminación transmitida de apertura numérica 0.2.

Filtros de detección

Dapi (480/40), GFP/FITC (525/50), mCherry (600/50), Rojo lejano (700/75) y otros que se pueden adicionar a la rueda de filtros.

Posibilidad de detectar varios colores simultáneamente con la misma cámara (optosplit).

Objetivos de detección

Nota: todos los objetivos son de inmersión en agua

  • 10x
    Apertura Numérica 0.3, Distancia de trabajo 3mm
  • 16x
    Apertura Numérica 0.8, Distancia de trabajo 3mm
  • 40x

Apertura Numérica 0.8, Distancia de trabajo 3.5mm

  • 60x

Apertura Numérica 1.1, Distancia de trabajo 2mm

Cámara de detección

Andor Neo (5.5 Mp) enfriada a -40ºC. Se puede obtener hasta 100 imágenes por segundo en resolución completa. En modo hoja de luz tipo SPIM con movimiento de la muestra se obtiene un poco más de un plano por segundo.

Porta muestras

El montaje de muestras en microscopía de hoja de luz es distinto al de microscopios derechos o invertidos, por lo que es indispensable hablar con el personal del centro antes de traer muestras para analizar.

Se tienen portamuestras para: Muestras directamente sobre cubreobjetos, en tubos de FEP y en capilares con agarosa de baja temperatura, los dos últimos con posibilidad de rotar la muestra.

Adicionalmente se tiene un sistema de calentamiento de agua (25 a 40ºC aprox.) para muestras sensibles a al temperatura o experimentos de largo plazo.

 


AnimalCore                    Exacore                    GenCore                    MetCore                    MicroCore                    

Cra. 1 No. 18A – 12,

Edificio B – 102 

Bogotá, Colombia

Código Postal: 111711 

email: Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.

Tel: [+571] 3394949, ext: 1444

REDES SOCIALES

LinkedIn  Facebook

Universidad de los Andes | Vigilada Mineducación
Reconocimiento como Universidad: Decreto 1297 del 30 de mayo de 1964.
Reconocimiento personería jurídica: Resolución 28 del 23 de febrero de 1949 Minjusticia.

 

© - Derechos Reservados Universidad de los Andes